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聚合物长期辐射老化 第2部分：预测低剂量率下老化的程序 GB/Z 28820.2-2012

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    简体中文
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  • 更新时间：
    2013-10-05
  • 应用平台：
    Win All
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标准介绍


聚合物长期辐射老化 第2部分：预测低剂量率下老化的程序  GB/Z 28820.2-2012
GB/Z 28820的本部分内容适用于预测低剂量率下老化的程序。
本部分给出了3种根据高剂量率试验数据外推得到一般使用条件下低剂量率数据的方法。这些方法均假设在试验条件下已实现均相氧化。
本部分适用于各种弹性体、热塑性材料和部分热固体材料。

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