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201210138551.5制备高分辨率特征物的方法、组合物和导电特征物

  • 专利类型：
    发明专利
  • 发  明  人：
    吴贻良
  • 申  请  人：
    施乐公司
  • 地        址：
    美国纽约
  • 状        态：
    公开
  • 文件大小：
    1.28 MB
  • 公  布  号：
    CN 102776507 A
  • 公  布  日：
    2012.11.14
  • 申  请  号：
    201210138551.5
  • 申  请  日：
    2012.05.07
  • 代理机构：
    北京北翔知识产权代理有限公司 11285
  • 代  理  人：
    王媛 钟守期
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专利介绍


本发明涉及一种制备高分辨率特征物的方法、组合物和导电特征物。一种在基底上形成高分辨率特征物的方法，该方法包括：沉积含有一种物质和一种溶剂的液体组合物至基底上以形成沉积特征物，在沉积期间或沉积之后加热沉积特征物至加热的温度以形成具有中心区域和边缘区域的中间特征物，施加胶粘物质至中间特征物表面的至少一部分，以及将胶粘物质与中间特征物的中心区域的至少一部分一起移除以在基底上形成高分辨率特征物。

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